QUANTAX EDS система анализа для электронных микроскопов

Наименование характеристики

Значение характеристики

Спектральное разрешение линии К Мп (5,9 кэВ), эВ

от 121 до 145 (зависит от площади кристалла детектора)

Максимальная скорость счета, имп/с

600 000

Предел допускаемого относительного СКО выходного сигнала, %

0,5

Диапазон измерений массовой доли элементов, %

от 0,1 до 100,0

Предел допускаемого СКО случайной составляющей относительной погрешности измерений массовой доли элементов1), %, в поддиапазоне измерений:

-    от 0,1 до 1,5 % включ.

-    св. 1,5 до 10,0 % включ.

-    св. 10,0 до 20,0 % включ.

-    св. 20,0 до 100,0 % включ.

10

5.0

2.0 1,0

Пределы допускаемой относительной погрешности измерений массовой доли элементов1), %, в поддиапазоне измерений:

-    от 0,1 до 1,5 % включ.

-    св. 1,5 до 10,0 % включ.

-    св.10,0 до 20,0 % включ.

-    св. 20,0 до 100,0 % включ.

±35

±30

±10

±5,0

Активная площадь детектора, мм2

от 10 до 100 (10, 30, 60, 100)

Средний срок службы, лет, не менее

10

Параметры электрического питания:

-    напряжение сетевого питания, В

-    частота питающей сети, Гц

110/240±10 % 60/50±1

Габаритные размеры, мм, не более:

-    детектора без учета длины «пальца» (длинахширинахвысота)

-    блока обработки сигнала (длинахширинахвысота)

-    типичная длина «пальца» детектора (зависит от электронного микроскопа, на который устанавливается система)

160х90х124

495x270x165

250/330/400